电阻率/方块电阻测试仪 型号:KDB-1 库号:D410754
电阻率/方块电阻测试仪 型号:KDB-1 库号:D410754KDB-1电阻率/方块电阻测试仪是严格按照相关标准及标准设计制造,用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶....
分类:化工仪表 时间:2026-07-20 阅读:45
方块电阻测试仪(通常指四探针法)的工作原理核心在于“恒流源激励”与“高阻抗电压检测分离”,从而消除接触电阻对测量结果的影响。方块电阻测试仪的具体工作流程如下
方块电阻测试仪 型号:ST21 库号:D368394 方块电阻测试仪是一种依照类似的标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同....
分类:产品动态 时间:2025-10-31 阅读:381
方块电阻测试仪 型号:YK22-ST-21L库号:M397668
特点:1采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;2以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;3采用单个电池供电,带电池欠压指示;4体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;5特制之手握式探笔,球形探针....
分类:产品动态 时间:2022-12-08 阅读:927