少子寿命测试仪资讯_维库仪器仪表网

高频光电导少数载流子寿命测试仪/高频光电导少子寿命测试仪型号:LT-1 库号：D237504 产品简介1、仪器采用GB/T1553-1997中硅单晶少数载流子寿命测定高频光电导衰减法；2、测试硅单晶电阻率范围：ρ﹥2Ω·㎝，测电子...

分类：产品动态时间：2026-07-15 阅读：206

LT-2型单晶少子寿命测试仪，该仪器用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的硅单晶，以及经热...

分类：产品动态时间：2025-04-03 阅读：856

适用范围及特点用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。数字显示测试结果，自动测试。主要参数少子寿命测量范围：0.1-99us外形尺寸：440X×440×150mm整机重量：10kg特点无需重新布线即可将 C-V 测量移动....

分类：产品动态时间：2018-07-06 阅读：1905

少子寿命测试仪