高频光电导少数载流子寿命测试仪 型号:CN61M/LT-1 库号：M220754
技术参数 （1）寿命测试范围：5~10000μs；电阻率测量范围：ρ≥2Ω·cm； 测电子级参杂硅单晶片（厚度小于 1mm），电阻率范围：ρ＞0.1Ω·cm（表面可能需要抛光处理）。 测量重复性误差≤±20%。 （2）光脉冲发生....
分类：产品动态 时间：2024-03-15 阅读：996
电机寿命测试仪（交流） 型号:HH4-WBSM-2库号：M399217
一、主要特点2适用于单相用电设备的电压值、电流值、功率值等参数的测量。3采用18位LED数字显示，可同时显示电压、电流、时间、计数次数等参数。4本仪器具有电流限报，便于流水线作业。二、主要技术指参 数 技 术 指...
分类：产品动态 时间：2023-08-18 阅读：180
1、概述LT-100C高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准（MF28-0707、MF1535-0707）及国家标准GB/T1553-1997设计制造。本设备采用高频光电导衰减测量方法，适用于硅、锗单晶的少数载流子....
分类：产品动态 时间：2019-11-29 阅读：1070
适用范围及特点用于测试可控硅或PN结（二极管）的长基区少子寿命。数字显示测试结果，自动测试。主要参数少子寿命测量范围：0.1-99us外形尺寸：440X×440×150mm整机重量：10kg特点无需重新布线即可将 C-V 测量移动....
分类：产品动态 时间：2018-07-06 阅读：870
时间：2011-09-06 阅读：
