您好,欢迎来到维库仪器仪表网 网站登录 | 免费注册 | 忘记密码

手机访问

“高精度光栅测长仪验证评价方案”论证会召开

类别:业内要闻      出处:北京市计量检测科学研究院      发布于:2019-01-11 17:36:27 | 116 次阅读

    2019年1月4日上午,北京市计量院机械所召开“高精度光栅测长仪验证评价方案”论证会,会议由长度室孟令川主任主持,科技部吴晓昱主任及课题参加人员出席了本次会议。会议邀请了来自北京长城计量测试技术研究所、北京交通大学、北京理工大学和北京工业大学等单位的五位资深验评专家。
 

 
  科技部吴主任向与会人员介绍了北京市科委“国产质监领域计量科学仪器验证评价与推广项目”的平台背景和成长情况,课题组汇报了“高精度光栅测长仪验评”课题的立项及最新进展情况。
 
  课题组详细汇报了“高精度光栅测长仪”验证评价方案。与会五位专家对验评方案进行了深入的讨论和论证,一致认为课题组汇报的验评方案科学合理,技术路线清晰,实施方案可行,完全符合预期考核要求,建议课题组根据专家意见进一步完善验评方案,尽快实施该课题。
 
  本次验评方案论证会的召开,肯定了课题的技术方案,保障了“高精度光栅测长仪”验评课题的顺利实施,为进一步提高国产质监计量科学仪器“高精度光栅测长仪”的质量水平和应用推广奠定了坚实的技术基础。
 

全年征稿 / 资讯合作

稿件以电子文档的形式交稿,欢迎大家砸稿过来哦!

联系邮箱:3342987809@qq.com

版权与免责声明

凡本网注明“出处:维库仪器仪表网”的所有作品,版权均属于维库仪器仪表网,转载请必须注明维库仪器仪表网,http://www.hi1718.com,违反者本网将追究相关法律责任。

本网转载并注明自其它出处的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品出处,并自负版权等法律责任。

如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。

热点排行