X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,这时原子被激发了,处于激发态。此时,其他的外层电子便会填补这一空位,即所谓的跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。

X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理 

X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

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由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。

 

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢、铁、银、镍。此种方法测量高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.放射测厚法

此种仪器价格昂贵,适用于一些特殊场合。

 

常规镀层厚度分析仪的原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。

这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。 

镀层厚度分析仪使用注意事项

1.仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。

2.镀层厚度分析仪为精密仪器,建议配备高的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源(UPS)。

3.镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

4.仪器适合在10~40℃(50~104℉)的环境温度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间(非冷凝)。在操作过程中,环境温度和湿度应保持恒定。

5.仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器,以避免高温对仪器造成损害。

6.为避免短路,严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器,请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员全面检查仪器。

7.镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和易爆场合。

8.不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片,否则会造成读数错误。

9.不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话,可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。

江苏天瑞仪器股份有限公司是的镀层测厚仪生产企业, 产品打破了国外垄断局面,性价比,在行业内销量,分析仪器上市公司。公司生产镀层测厚仪,气相色谱质谱仪(GCMS),五金镀层测厚仪,x射线测厚仪,ROHS检测仪,手持式ROHS光谱仪,手持式合金分析仪,ROHS检测设备,电镀层测厚仪,五金镀层测量仪,天瑞ROHS仪,X射线镀层测厚仪。天瑞仪器成立于1992 年,以研究、生产、销售XRF荧光光谱仪起步,目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务,是国内上市的分析仪器企业。





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