HAST高压加速老化试验箱内经抛光处理经久耐用美观不沾污,圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测物品,可预防试验中有滴水结露现象,可避免蒸汽过热直接冲击操作人员。HAST高压加速老化试验箱安全程序自动停机,自动泄压,自动破真空,自动给水,每次加水可持续运行48小时,采用温度与压力安全检知及门禁自动锁定控制系统,圆型测试槽与安全门环扣结构设计,当内箱压力越大时,反压会迫使安全门与箱体更加紧密之结合,故内箱压力必须小于正常压力时,测试门才能被打开,因此而保证了操作人员的安全。


  HAST高压加速老化试验箱加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高HAST高压加速老化试验箱试验效率、减少试验时间,采用了的压力蒸煮锅试验方法。


  HAST高压加速老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验,具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。HAST高压加速老化试验箱采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据功能,高效真空泵,使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。